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  • 晶圓非接觸法電阻率測量儀

    晶圓非接觸法電阻率測量儀主要透過四探針法測試單晶矽電阻率│✘☁,具有自動定位的三座標自動測量系統│✘☁,可以自由設定測量點數量│✘☁,自動測試完成│✘☁,可以對測試出的資料進行2D成像│✘☁,是智慧化◕│·₪│、整合化很高的晶圓電阻率測試儀器₪··₪▩。

    更新時間╃│₪:2021-05-21

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  • 晶圓非接觸法電阻率測定儀

    晶圓非接觸法電阻率測定儀主要透過四探針法測試單晶矽電阻率│✘☁,具有自動定位的三座標自動測量系統│✘☁,可以自由設定測量點數量│✘☁,自動測試完成│✘☁,可以對測試出的資料進行2D成像│✘☁,是智慧化◕│·₪│、整合化很高的晶圓電阻率測試儀器₪··₪▩。

    更新時間╃│₪:2021-05-21

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  • 晶圓非接觸法電阻率測試儀

    晶圓非接觸法電阻率測試儀主要透過四探針法測試單晶矽電阻率│✘☁,具有自動定位的三座標自動測量系統│✘☁,可以自由設定測量點數量│✘☁,自動測試完成│✘☁,可以對測試出的資料進行2D成像│✘☁,是智慧化◕│·₪│、整合化很高的晶圓電阻率測試儀器₪··₪▩。

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  • 非接觸法晶圓電阻率成像測量儀

    非接觸法晶圓電阻率成像測量儀主要透過四探針法測試單晶矽電阻率│✘☁,具有自動定位的三座標自動測量系統│✘☁,可以自由設定測量點數量│✘☁,自動測試完成│✘☁,可以對測試出的資料進行2D成像│✘☁,是智慧化◕│·₪│、整合化很高的晶圓電阻率測試儀器₪··₪▩。

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  • 非接觸法晶圓電阻率成像測試儀

    非接觸法晶圓電阻率成像測試儀主要透過四探針法測試單晶矽電阻率│✘☁,具有自動定位的三座標自動測量系統│✘☁,可以自由設定測量點數量│✘☁,自動測試完成│✘☁,可以對測試出的資料進行2D成像│✘☁,是智慧化◕│·₪│、整合化很高的晶圓電阻率測試儀器₪··₪▩。

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